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RFID部会 RFID技術グループ

2025
03月
WPT検討WG
干渉評価
第2回 開催日 令和7年3月19日 場所:宮川製作所様 参加者 2名
  1. 目的
    検討中の高出力型WPTに関して、920MHz帯RFIDシステムに与える干渉の評価を行う。今回は測定方法と干渉の影響を評価するための事前検討とし、定量的なデータの取得は行わずどのような影響があるか確認。
  2. 内容
    想定するWPTからの与干渉モデルを元に評価。干渉による読取距離・枚数の影響、セッション、FM0・DRM、WPT周波数偏差の影響を確認。
  3. 結果
    2024年度技術グループ会議(第3回)配布資料3.を参照。